如今的這個(gè)科技飛速發(fā)展的時(shí)代，
江蘇影像測(cè)量?jī)x扮演著重要的角色。測(cè)量軟件通過(guò)數(shù)字圖像處理技術(shù)提取工件表面的坐標(biāo)點(diǎn)，再利用坐標(biāo)變換和數(shù)據(jù)處理技術(shù)轉(zhuǎn)換成坐標(biāo)測(cè)量空間中的各種幾何要素，從而得到被測(cè)工件幾何尺寸和形位公差等參數(shù)。其中自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x涉及到較為重要的參數(shù)需要進(jìn)行熟知。
1.在平面上的尺寸測(cè)量誤差(Exy):該測(cè)量誤差代表在影像測(cè)量平面上任意方向擺放產(chǎn)品或樣件，測(cè)量二維尺寸的示值誤差。
2.在Z軸上的尺寸測(cè)量誤差(Ez):該測(cè)量誤差代表在垂直于影像測(cè)量平面方向，單軸方向測(cè)量的示值誤差。
3.測(cè)量頭的尺寸測(cè)量誤差(Ev):在平臺(tái)不做移動(dòng)，在影像視場(chǎng)范圍內(nèi)測(cè)量平面任意尺寸的示值誤差。
4.測(cè)量各截面測(cè)量結(jié)果的一致性(Ec):在光軸的不同截面上測(cè)量時(shí)，各截面坐標(biāo)原點(diǎn)投影與XY平面的一致性，可以理解為影像測(cè)量?jī)x沿Z方向上下移動(dòng)時(shí)，Z軸與XY水平面之間的垂直程度，也可以反映測(cè)量頭在不同高度用影像測(cè)量特性的一致性。
5.二維探測(cè)誤差(P2D):用影像測(cè)量?jī)x測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓的半徑變化幅度。
6.測(cè)頭的探測(cè)誤差(PV):用影像測(cè)量?jī)x在視場(chǎng)范圍內(nèi)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓的半徑變化幅度。
7.影像測(cè)量?jī)x的變倍探測(cè)誤差(Pz):用影像測(cè)量?jī)x在不同倍率下測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)圓心坐標(biāo)的示值變化幅度。
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更新時(shí)間：2022-09-14
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